100CR X射线光谱仪探测器

 
光谱仪探测器
美国AMPTEK/XR-100CR/XR-100CR是一种新的高性能X射线探测器，包括前置放大器和制冷系统，通过热电法冷却的Si-PIN光电二极管作为X射线探测器。在二级制冷系统上还装有输入场效应管和一个新型的反馈电路。这些组件大约-55的环境下工作，其温度由一个内置的温度传感器控制。探测器的密封TO-8包装有一个钵薄膜窗口，用于软X射线探测。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破，可提供"现成的"结果，而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。XR-100CR硅PIN探测器/XR-100SDD硅漂移X射线探测器/XR-100T碲化镉X射线和伽马射线探测器/X-123SIN/X-123SDD/X-123CdTe型X射线光谱仪/多道处理器/闪烁体探测器
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 XR-100CR
    ◇149eV的分辨率，全固态无液氮设计
    ◇SI-PIN光敏二极管，二级热电冷却器
    ◇内置温度控制监测检测器，密封的铍检测窗
    ◇检测范围广，操作简单
 XR-100SDD
    ◇高计数率——5000，000 CPS
    ◇对峰值5.9keV的分辨率为139eV
    ◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1
    ◇规格为：7 mm2 * 500 µm
    ◇无液氮
 XR-100CdTe
    ◇CdTe二极管探测器，热电冷却器（Peltier）
    ◇FET冷却
    ◇铍检测窗，密封包装（TO-8）
 AXAS 系统
    AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的超快MCA和SDD （硅漂泊二极管）。利用MCDWIN MCA 软件，AXASMCA可以成为非常小的*分光计，从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据，因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。
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100CR X射线光谱仪探测器详细参数
探测器类型：硅针探测器（Si-PIN）
探测器尺寸：5 mm2---25 mm2
硅厚度：300µm，500µm，680µm
能量分辨率（5.9kev,55Fe）:半峰宽145eV-230eV(取决于探测器种类和形成时间常数)
背景记数：<3*10-3/s,2KeV-150KeV(针对7mm2/300um探测器)
探测器铍窗厚度：1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)
电荷敏感前置放大器：用户定制设计
增益稳定性：<20PPM/（典型）
尺寸：3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)
重量：139克
总功率：<1瓦
器件寿命：5-10年
操作环境：0-40
认证：TUV
前置放大器功率：正负8-9V，15mV(不超过50mV的蜂噪音)
探测器功率： 100V-200V，1µA（取决与探测器类型），非常稳定，偏差<0.1%
制冷器功率：电流zui大值为350mA,电压zui大值为4V（峰噪音<100mV,）
前置放大器灵敏度：典型值1mV/KeV(对于不同的探测器可能有差异)
前置放大器极性：负信号输出（zui大负载1K欧姆）
前置放大器反馈：通过探测器电容进行重置
温度灵敏度：PX4通过软件直接读取开尔文温度